GB/T 5201-1994 《带电粒子半导体探测器测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 5201-1994
- 标准中文名称：带电粒子半导体探测器测试方法
- 标准英文名称：Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
国家标准《带电粒子半导体探测器测试方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京核仪器厂。全部代替GB 5201-1985被GB/T 5201-2012GB/T 5201-2012全部代替
- 标准号
- GB/T 5201-1994
- 发布日期
- 1994-12-22
- 实施日期
- 1995-10-01
- 废止日期
- 2012-11-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- F80
- 国际标准分类号
- 17.240
17 计量学和测量、物理现象 17.240 辐射测量 - 归口单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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