GB/T 5594.4-1985 《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 5594.4-1985
- 标准中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
- 标准英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位天津大学。被GB/T 5594.4-2015GB/T 5594.4-2015全部代替
- 标准号
- GB/T 5594.4-1985
- 发布日期
- 1985-11-27
- 实施日期
- 1986-12-01
- 废止日期
- 2016-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L32
- 归口单位
- 工业和信息化部（电子）
- 执行单位
- 工业和信息化部（电子）
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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