收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 6616-1995 标准中文名称：半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 标准英文名称：Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductorfilms with a noncontact eddy-current gage 国家标准《半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委 …
认准啦，用技术呵护全家！