GB/T 1553-2023 《硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法》-国家标准
目录
标准基础信息
- 标准号：GB/T 1553-2023
- 标准中文名称：硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
- 标准英文名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位有研半导体硅材料股份公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、广州昆德半导体测试技术有限公司、青海芯测科技有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、浙江海纳半导体股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、亚洲硅业（青海）股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司。主要起草人孙燕 、宁永铎 、李素青 、朱晓彤 、贺东江 、王昕 、薛心禄 、徐岩 、潘金平 、严大洲 、王彬 、蔡云鹏 、田新 、赵培芝 、冉胜国 、韩成福 、普世坤 、蔡丽艳 、高源 、赵晶 、崔丁方 。GB/T 1553-2009（全部代替）GB/T 1553-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 1553-2023
- 发布日期
- 2023-08-06
- 实施日期
- 2024-03-01
- 全部代替标准
- GB/T 1553-2009
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
77 冶金 77.040 金属材料试验 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
- 点击查看标准全文。