GB/T 24581-2022 《硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法》-国家标准

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标准基础信息

  • 标准号:GB/T 24581-2022
  • 标准中文名称:硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
  • 标准英文名称:Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

国家标准《硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位乐山市产品质量监督检验所、青海芯测科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、新特能源股份有限公司、有研半导体硅材料股份公司、四川永祥股份有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、江苏鑫华半导体材料科技有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司、国标(北京)检验认证有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、宜昌南玻硅材料有限公司、江苏秦烯新材料有限公司、义乌力迈新材料有限公司。主要起草人梁洪 、赵晓斌 、万涛 、薛心禄 、魏东亮 、王彬 、邱艳梅 、杨素心 、李素青 、李朋飞 、赵培芝 、王永涛 、魏强 、楚东旭 、周延江 、刘文明 、刘红 、何建军 、皮坤林 。全部代替GB/T 24581-2009


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标准号
GB/T 24581-2022
发布日期
2022-03-09
实施日期
2022-10-01
全部代替标准
GB/T 24581-2009
标准类别
方法
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

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标准全文


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