GB/T 42191-2023 《MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 42191-2023
- 标准中文名称：MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法
- 标准英文名称：Test methods of the performances for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
国家标准《MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京大学、中机生产力促进中心有限公司、北京智芯传感科技有限公司、昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司、厦门光莆电子股份有限公司、江门市润宇传感器科技有限公司、宁波志伦电子有限公司、广州奥松电子股份有限公司、华东光电集成器件研究所、深圳市美思先端电子有限公司、南京高华科技股份有限公司、中国科学院微电子研究所、湖南国天电子科技有限公司、南京沃天科技股份有限公司、广州广电计量检测股份有限公司、武汉飞恩微电子有限公司、深圳安培龙科技股份有限公司、昆山传感器测控技术有限公司。主要起草人张威 、顾枫 、李根梓 、陈广忠 、李宋 、张亚婷 、张良 、陈立国 、林瑞梅 、李树成 、茅曙 、张宾 、王鹏 、李晓波 、许宙 、王玮冰 、陈路 、高峰 、明志茂 、曹万 、陈君杰 、王冰 。GB/T 42191-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 42191-2023
- 发布日期
- 2023-05-23
- 实施日期
- 2023-09-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L59
- 国际标准分类号
- 31.080.99
31 电子学 31.080 半导体分立器件 31.080.99 其他半导体分立器件 - 归口单位
- 全国微机电技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微机电技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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