GB/T 42271-2022 《半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 42271-2022
- 标准中文名称：半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
- 标准英文名称：Test method for resistivity of semi-insulating monocrystalline silicon carbide by contactless measurement
国家标准《半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京天科合达半导体股份有限公司、中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、安徽长飞先进半导体有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所。主要起草人彭同华 、佘宗静 、王大军 、张贺 、李素青 、王波 、杨建 、袁松 、刘立娜 。
- 标准号
- GB/T 42271-2022
- 发布日期
- 2022-12-30
- 实施日期
- 2023-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H21
- 国际标准分类号
- 77.040
77 冶金 77.040 金属材料试验 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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