GB/T 42838-2023 《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 42838-2023
- 标准中文名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
- 标准英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
国家标准《半导体集成电路 霍尔电路测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。主要起草人尹航 、刘芳 、何万海 、唐食明 、张帆 、刘德广 。GB/T 42838-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 42838-2023
- 发布日期
- 2023-08-06
- 实施日期
- 2023-12-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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