GB/T 42968.8-2023 《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号:GB/T 42968.8-2023
- 标准中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
- 标准英文名称:Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method
国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。主要起草单位中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想(北京)有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司。主要起草人付君 、崔强 、方文啸 、刘小军 、吴建飞 、乔彦彬 、郑益民 、叶畅 、杨红波 、李楠 、刘星汛 、梁吉明 、白云 、张艳艳 、朱赛 、靳冬 、刘佳 、陈燕宁 、邵鄂 、周香 、黄雪梅 、郑泓 、李德鹏 、吕飞燕 、刘易勇 、贺伟 、陈勇志 、陈梅双 。GB/T 42968.8-2023即将实施本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62132-8:2012。采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法。
- 标准号
- GB/T 42968.8-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
- 主管部门
- 工业和信息化部(电子)
标准全文
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