GB/T 42969-2023 《元器件位移损伤试验方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 42969-2023
- 标准中文名称：元器件位移损伤试验方法
- 标准英文名称：Displacement damage test method for components
国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学。主要起草人罗磊 、于庆奎 、唐民 、朱恒静 、张洪伟 、郑春 、陈伟 、丁李利 、汪朝敏 、李豫东 、文林 、薛玉雄 。GB/T 42969-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 42969-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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