GB/T 43063-2023 《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 43063-2023
- 标准中文名称：集成电路 CMOS图像传感器测试方法
- 标准英文名称：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司。主要起草人李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。GB/T 43063-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 43063-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L54
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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