GB/T 43063-2023 《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》-国家标准

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标准基础信息

  • 标准号:GB/T 43063-2023
  • 标准中文名称:集成电路 CMOS图像传感器测试方法
  • 标准英文名称:Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。主要起草单位中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司。主要起草人李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。GB/T 43063-2023即将实施


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标准号
GB/T 43063-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L54
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门
工业和信息化部(电子)

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标准全文


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