GB/T 43087-2023 《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 43087-2023
- 标准中文名称：微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
- 标准英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
国家标准《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京科技大学。主要起草人权茂华 、柳得橹 。GB/T 43087-2023即将实施本标准修改采用ISO国际标准：ISO 20263：2017。采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法。
- 标准号
- GB/T 43087-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- N33
- 国际标准分类号
- 71.040.50
71 化工技术 71.040 分析化学 71.040.50 物理化学分析方法 - 归口单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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