GB/T 43226-2023 《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 43226-2023
- 标准中文名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
- 标准英文名称：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。主要起草人赵元富 、陈雷 、王亮 、岳素格 、郑宏超 、李哲 、林建京 、李永峰 、陈淼 、王汉宁 。GB/T 43226-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 43226-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- V25
- 国际标准分类号
- 49.140
49 航空器和航天器工程 49.140 航天系统和操作装置 - 归口单位
- 全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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