GB/T 43227-2023 《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 43227-2023
- 标准中文名称：宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
- 标准英文名称：Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
国家标准《宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。主要起草人赵元富 、姚全斌 、林鹏荣 、冯小成 、荆林晓 、李洪剑 、付明洋 、林建京 、曹燕红 、刘思嘉 、刘征宇 。GB/T 43227-2023即将实施
- 标准号
- GB/T 43227-2023
- 发布日期
- 2023-09-07
- 实施日期
- 2024-01-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- A29
- 国际标准分类号
- 49.040
49 航空器和航天器工程 49.040 有关航空航天制造用镀涂和有关工艺 - 归口单位
- 全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会
- 主管部门
- 国家标准化管理委员会
标准全文
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