GB/T 42968.2-2024 《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》-国家标准

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标准基础信息

• 标准号：GB/T 42968.2-2024
• 标准中文名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
• 标准英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2: Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院。主要起草人付君 、崔强 、黄雪梅 、乔彦彬 、吴建飞 、方文啸 、朱赛 、亓新 、李旸 、梁吉明 、谢玉章 、张红升 、熊伟杰 、张艳艳 、周昕 、郑益民 、王雪 、熊璞 、张金玲 、麦强 、康志能 、陈梅双 。GB/T 42968.2-2024现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-2:2010。采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。

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