GB/T 44075-2024 《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 44075-2024
- 标准中文名称：纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
- 标准英文名称：Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。主要起草人郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。GB/T 44075-2024即将实施
- 标准号
- GB/T 44075-2024
- 发布日期
- 2024-05-28
- 实施日期
- 2024-12-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- A42
- 国际标准分类号
- 17.040.20
17 计量学和测量、物理现象 17.040 长度和角度测量 17.040.20 表面特征 - 归口单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国纳米技术标准化技术委员会
- 主管部门
- 中国科学院
标准全文
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