GB/T 44514-2024 《微机电系统（MEMS）技术 层状MEMS材料界面黏附能四点弯曲试验方法》-国家标准

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标准基础信息

• 标准号：GB/T 44514-2024
• 标准中文名称：微机电系统（MEMS）技术 层状MEMS材料界面黏附能四点弯曲试验方法
• 标准英文名称：Micro-electromechanical systems (MEMS) technology—Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials

国家标准《微机电系统（MEMS）技术 层状MEMS材料界面黏附能四点弯曲试验方法》由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。主要起草单位北京自动化控制设备研究所、合肥美的电冰箱有限公司、中机生产力促进中心有限公司、北京晨晶电子有限公司、山东中康国创先进印染技术研究院有限公司、苏州大学、西安交通大学、中国科学院空天信息创新研究院、深圳市速腾聚创科技有限公司、无锡华润上华科技有限公司、安徽奥飞声学科技有限公司、航天长征火箭技术有限公司、天津新智感知科技有限公司、华东电子工程研究所（中国电子科技集团公司第三十八研究所）、山东中科思尔科技有限公司、苏州和林微纳科技股份有限公司、明石创新（烟台）微纳传感技术研究院有限公司。主要起草人王永胜 、曹诗亮 、尚克军 、李根梓 、刘韧 、汤一 、毛志平 、孙立宁 、王志广 、陈德勇 、杨旸 、要彦清 、张鲁宇 、鲁毓岚 、张新伟 、安志武 、郑冬琛 、路文一 、陈得民 、张红旗 、商艳龙 、李帆雅 、钱晓晨 、高峰 。GB/T 44514-2024现行本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62047-31:2019。采标中文名称:半导体器件 微机电器件 第31部分：层状MEMS材料界面结合能的四点弯曲试验方法。

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