GB/T 44924-2024 《半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 44924-2024
- 标准中文名称：半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
- 标准英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring methods for RF transmitter/receiver
国家标准《半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第二十四研究所、重庆西南集成电路设计有限责任公司、中国电子科技集团公司第十四研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、深圳市晶峰晶体科技有限公司。主要起草人苏良勇 、王露 、唐景磊 、阳润 、戚园 、刘丹 、许娟 、苏巧 、陈翔 、刘晓政 、范超 、高青 。GB/T 44924-2024即将实施
- 标准号
- GB/T 44924-2024
- 发布日期
- 2024-12-31
- 实施日期
- 2025-04-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L56
- 国际标准分类号
- 31.200
31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 - 归口单位
- 全国集成电路标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国集成电路标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
标准全文
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