收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 43315-2023 标准中文名称：硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法 标准英文名称：Test method for flow pattern defects in silicon wafer—Etching technique 国家标准《硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。主要起草单位中环领先（徐州）半导体材料有限公司、山东有研半导体 …