收录自国家标准信息平台，认准啦(RenZhunLa.com)为执行该国家标准的产品或服务提供推介展位，欢迎留言交流。 标准基础信息 标准号：GB/T 44558-2024 标准中文名称：III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法 标准英文名称：Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy 国家标准《III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材 …