GB/T 4326-2025 《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》-国家标准
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标准基础信息
- 标准号：GB/T 4326-2025
- 标准中文名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）、全国有色金属标准化技术委员会联合归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行 ，主管部门为国家标准委。 主要起草单位 有研国晶辉新材料有限公司 、有色金属技术经济研究院有限责任公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国电子科技集团公司第四十六研究所 、广东先导微电子科技有限公司 、中国科学院半导体研究所 、晶澳太阳能科技股份有限公司 、大庆溢泰半导体材料有限公司 、深圳大学 。 主要起草人 林泉 、王博 、马远飞 、李素青 、王阳 、刘国龙 、周铁军 、王宇 、黄文文 、王金灵 、刘京明 、韩庆辉 、赵中阳 、胡世鹏 、莫杰 、朱晨阳 。 GB/T 4326-2006 （全部代替） GB/T 4326-2025 即将实施
- 标准号
- GB/T 4326-2025
- 发布日期
- 2025-10-31
- 实施日期
- 2026-05-01
- 全部代替标准
- GB/T 4326-2006
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- H17
- 国际标准分类号
- 77.040
77 冶金 77.040 金属材料试验 - 归口单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会、全国有色金属标准化技术委员会
- 副归口单位
- 全国有色金属标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
- 主管部门
- 国家标准委
标准全文
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