SJ/T 11586-2016 《半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法》-行业标准
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行业标准基础信息
- 标准号：SJ/T 11586-2016
- 标准中文名称：半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
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- 标准号
- SJ/T 11586-2016
- 发布日期
- 2016-01-15
- 实施日期
- 2016-06-01
- 制修订
- 制定
- 中国标准分类号
- L40
- 国际标准分类号
- 31.080.01
- 技术归口
- 工业和信息化部电子工业标准化研究院
- 批准发布部门
- 工业和信息化部
- 行业分类
- 无
- 标准类别
- 方法标准
行业标准范围、标准起草单位和标准起草人
备案公告：
工业和信息化部电子第五研究所
罗宏伟、何玉娟、恩云飞 等
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标准全文
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