T/CAIA YQ003—2016 光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CAIA YQ003—2016 |
| 中文标题 | 光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法 |
| 英文标题 | Testing Methods for Optical/Electrical Characteristics of Linear Charge Coupled Imaging Device for Spectrometer |
| 国际标准分类号 | 31.260 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C401 通用仪器仪表制造 |
| 发布日期 | 2016年12月10日 |
| 实施日期 | 2017年03月15日 |
| 起草人 | 陈吉文、李金、汪朝敏、姚鸿、屈小艳、陈红兵、唐遵烈、丁振敏、孙利群、赵珍阳、吕全超、赵友全、陶春先、马华平 |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所、钢研纳克检测技术有限公司、清华大学、烟台东方分析仪器有限公司、聚光科技（杭州）股份有限公司、天津大学、上海理工大学。 |
| 范围 | 本标准规定了光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件的术语和参数测试方法。 本标准适用于光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件（以下简称CCD器件）的参数测试。 |
| 主要技术内容 | 测试方法的分类 本标准规定的测试方法分类如下： ——方法 01 暗信号； ——方法 02 暗信号非均匀性（固定图像噪声）； ——方法 03 读出噪声； ——方法 04 光响应非线性、饱和输出信号； ——方法 05 动态范围； ——方法 06 信噪比； ——方法 07 缺陷； ——方法 08 光响应非均匀性； ——方法 09 响应率； ——方法 10 光谱响应范围 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国分析测试协会 | ||
| 登记证号 | 50000142-1/社证字第3591号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流、展览展示、业务培训、咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 张渝英 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 北京市西城区三里河路54号 | 邮编 : 100045 | |