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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CEMIA 006—2018 |
| 中文标题 | 膜厚监控用石英晶振片 |
| 英文标题 | Quartz crystal resonator for film thickness control |
| 国际标准分类号 | 31.140 |
| 中国标准分类号 | L 21 石英晶体 |
| 国民经济分类 | C419 其他未列明制造业 |
| 发布日期 | 2018年12月14日 |
| 实施日期 | 2019年03月14日 |
| 起草人 | 王丽娟、毛晶、张立强、宫桂英、李健德、李剑、李洁、陈中康、张翔 |
| 起草单位 | 唐山万士电子有限公司、武汉海创电子股份有限公司，唐山国芯晶源电子有限公司、北京晨晶电子有限公司，江苏省东海硅产业科技创新中心。 |
| 范围 | 本标准规定了膜厚监控用石英晶振片的产品分类、技术要求、试验和测量方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。 |
| 主要技术内容 | 本标准规定了膜厚监控用石英晶振片的产品分类、技术要求、试验和测量方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存的要求。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
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| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国电子材料行业协会 |
| 登记证号 | 51100000500003195B | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 行业管理，信息交流，业务培训，国际合作，咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 潘林 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市朝阳区胜古中路2号院5号楼金基业大厦711/716室 | 邮编 : 100029 |
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