T/CESA 1119—2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CESA 1119—2020 |
| 中文标题 | 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 |
| 英文标题 | AI chips-Test index and test method of deep learning chips for cloud side |
| 国际标准分类号 | 31.200 |
| 中国标准分类号 | L 56 |
| 国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
| 发布日期 | 2020年10月30日 |
| 实施日期 | 2020年11月10日 |
| 起草人 | 宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、刘音、曹晓琦、袁圆、李强、 许源、赵春昊、刘亦珩、韩银和、李威、全振宇、汪玉、葛广君、恽超、程新超、张震宁、张文蒙、梁枭、罗航、吴庚、刘勇、陆坚、王一鹤、王梦硕、钟明琛 |
| 起草单位 | 中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、上海依图网络科技有限公司、 中国科学院计算技术研究所、清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、上海熠知电子科技有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百度网讯科技有限公司、上海阵量智能科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、第四范式(北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了对云侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求，适用于云侧深度学习芯片。本文件只规定云侧深度学习芯片基准测试的一般原则。 本文件适用于第三方机构对云侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于云侧深度学习芯片产品的采购、设计。 云侧芯片并不必须具备训练能力。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国电子工业标准化技术协会 | ||
| 登记证号 | 5110000050001381XW | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 行业指导 信息交流 业务培训 咨询服务 国际合作 | ||
| 法定代表人/负责人 | 刘志宏 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 北京市海淀区万寿路27号 | 邮编 : 100036 | |