T/CESA 1121—2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CESA 1121—2020
中文标题  人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
英文标题  AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for terminal side
国际标准分类号  31.200
中国标准分类号  
国民经济分类  I6520 集成电路设计
发布日期  2020年10月30日
实施日期  2020年11月10日
起草人  宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、韩银和、李威、全振宇、刘音、 李小娟、汪玉、葛广君、恽超、程新超、刘勇、罗恒、张文蒙、代翔、王和国、陆坚、吴庚、周生雷、 钟明琛
起草单位  中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、华为技术有限公司、 清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、深圳云天励飞技术有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、 上海阵量智能科技有限公司、北京君正集成电路股份有限公司和北京芯可鉴科技有限公司
范围  
主要技术内容  本文件规定了对端侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于端侧深度学习芯片。本文件只规定端侧深度学习芯片基准测试的一般原则。
本文件适用于第三方机构对端侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于端侧深度学习芯片产品的采购、设计。
是否包含专利信息  
标准文本  查看

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团体详细信息
团体名称中国电子工业标准化技术协会
登记证号5110000050001381XW发证机关中华人民共和国民政部
业务范围行业指导 信息交流 业务培训 咨询服务 国际合作
法定代表人/负责人刘志宏
依托单位名称
通讯地址北京市海淀区万寿路27号邮编 : 100036

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