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标准详细信息 |
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标准状态 | 现行 |
标准编号 | T/CESA 1121—2020 |
中文标题 | 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 |
英文标题 | AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for terminal side |
国际标准分类号 | 31.200 |
中国标准分类号 | |
国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
发布日期 | 2020年10月30日 |
实施日期 | 2020年11月10日 |
起草人 | 宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、韩银和、李威、全振宇、刘音、 李小娟、汪玉、葛广君、恽超、程新超、刘勇、罗恒、张文蒙、代翔、王和国、陆坚、吴庚、周生雷、 钟明琛 |
起草单位 | 中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、华为技术有限公司、 清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、深圳云天励飞技术有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、 上海阵量智能科技有限公司、北京君正集成电路股份有限公司和北京芯可鉴科技有限公司 |
范围 | |
主要技术内容 | 本文件规定了对端侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于端侧深度学习芯片。本文件只规定端侧深度学习芯片基准测试的一般原则。 本文件适用于第三方机构对端侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于端侧深度学习芯片产品的采购、设计。 |
是否包含专利信息 | 否 |
标准文本 | 查看 |
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团体详细信息 |
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团体名称 | 中国电子工业标准化技术协会 |
登记证号 | 5110000050001381XW | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
业务范围 | 行业指导 信息交流 业务培训 咨询服务 国际合作 |
法定代表人/负责人 | 刘志宏 |
依托单位名称 | |
通讯地址 | 北京市海淀区万寿路27号 | 邮编 : 100036 |
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