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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 092—2020 |
| 中文标题 | 自旋转移矩磁随机存储器测试方法 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 35.220.01 数据存储设备综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I6550 信息处理和存储支持服务 |
| 发布日期 | 2020年12月21日 |
| 实施日期 | 2021年01月25日 |
| 起草人 | 赵巍胜、彭守仲、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、王戈飞、 陈燕宁、付振、潘成、刘芳、卢辉 |
| 起草单位 | 北京航空航天大学 、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。
本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
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| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 徐晓兰 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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