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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CSPSTC 25—2019 |
| 中文标题 | 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法 |
| 英文标题 | Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID) |
| 国际标准分类号 | 27.160 |
| 中国标准分类号 | F 12 |
| 国民经济分类 | M745 质检技术服务 |
| 发布日期 | 2019年08月28日 |
| 实施日期 | 2019年11月15日 |
| 起草人 | 丁建、童翔、李璇、陈振、史振亮、姚冀众、李志坚、蒋猛、薛俊明、卢成绪、郝宇花。 |
| 起草单位 | 能移动能源控股集团有限公司、东泰高科装备科技有限公司北京分公司、杭州纤纳光电科技有限公司、深圳市创益科技发展有限公司、成都中建材光电材料有限公司、河北汉盛光电科技有限公司、标准联合咨询中心股份公司。 |
| 范围 | 本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法的范围、术语和定义、装置、试样、程序、数据处理和试验报告。
本标准只适用于硅基薄膜光伏组件。 |
| 主要技术内容 | 主要内容包括范围、术语和定义、装置、抽样、程序、计算、试验报告。
在硅基薄膜光伏组件在光照影响下的功率稳定过程中，每个大致相等的辐照周期前后测试最大功率值，最小辐照周期为43kwh/m2，按照IEC 61215-2 MQT 19的规定组件达到稳定后（IEC 61215-1-3：2016中规定（PMAX-PMIN）/PAVE≤2%），持续光照，功率仍旧出现持续下降的趋势。本标准给出以下方程式作为判定组件光致衰减是否达到最终稳定的准则：此处，Pmax、Pmin和Paverage为连续两个周期中测得的三个STC下最大功率的最大值、最小值和平均值。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
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| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国科技产业化促进会 |
| 登记证号 | 51100000500021588B | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 调查研究、学术研讨、书刊编辑、专业培训、信息交流、成果推广、展览展示、国际合作、咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 惠小兵 |
| 依托单位名称 | 科学技术部 |
| 通讯地址 | 北京市石景山区金融街长安中心26号院4号楼9层 | 邮编 : 100043 |
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