T/ZSA 39—2020 石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/ZSA 39—2020 |
| 中文标题 | 石墨烯测试方法 功函数的测定 紫外光电子能谱法 |
| 英文标题 | Characterization of Graphene - Work function - Ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS) method |
| 国际标准分类号 | 19.080 |
| 中国标准分类号 | G13 |
| 国民经济分类 | M731 自然科学研究和试验发展 |
| 发布日期 | 2020年12月17日 |
| 实施日期 | 2020年12月18日 |
| 起草人 | 赵秀婷、周静、尹立军、张超、丁娇娇、安军伟、刘全有、华纪民、李倩、文陈、田子健、李彬、展长振、孟世明。 |
| 起草单位 | 中关村石墨烯产业联盟、北京烯诺科技有限公司、诺尔姆国际科技（北京）有限公司、北京赛菲斯技术有限公司、北京泰科安吉国际科技有限公司、冶金工业信息标准研究院、北京科大分析检验中心有限公司、内蒙古清蒙新材料有限公司、内蒙古瑞盛天然石墨应用技术研究院、北京辉腾格勒石墨烯科技有限公司、江西省安谋科技有限公司、北京蒙京石墨新材料研究院有限公司。 |
| 范围 | 本文件规定了紫外光电子能谱法测试石墨烯薄膜功函数的术语和定义、原理、试验条件、仪器设备、样品、试验步骤和试验报告。 本文件适用于石墨烯功函数测定，其他透明导电膜材料功函数的测定可参照执行。 |
| 主要技术内容 | 导电薄膜功函数的确定在显示器件应用时起到至关重要的作用。随着基于石墨烯等新材料技术的柔性显示器的批量应用，准确测定石墨烯柔性导电薄膜功函数在产业化方面的需求越来越大。 目前为止主流的功函数测试方法是开尔文探针力显微镜（KPFM）法。该方法准确，且可同时获得测试范围内的材料形貌等信息，因此被市场广泛采用，用来测试上一代非柔性显示器件中氧化铟锡（ITO）玻璃的功函数。KPFM方法的缺点是测试时间相对较长，且测试范围较小，通常为几十至几百平方微米。 于石墨烯薄膜的缺陷度较高，因此功函数在膜片中的分布均匀性较ITO玻璃低。此时，光电子能谱法（UPS法）测试功函数的优点逐渐显现。首先，UPS法的最大测试范围可至2 mm╳2 mm，一定程度上规避了KPFM过于微观的特性。其次，UPS测试便捷、快速，可以在几分钟内得到测试结果。此外，UPS法还能同时得到样品的能带信息。 因此，UPS法测功函数可作为KPFM方法的有益补充。KPFM方法适用于对于研发等对微观精度要求高的场合，UPS方法可快速准确获得宏观薄膜的整体功函数情况，适用于批量交付产品中的质量控制。 本文件规范了UPS法测功函数的方法，以规范UPS法测功函数的基本操作，使此方法在以柔性显示器件为首的产业化进程中更好地发挥作用。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中关村标准化协会 | ||
| 登记证号 | 51110000MJ0111906XH | 发证机关 | 北京市民政局 |
| 业务范围 | 开展在中关村标准化领域内的学术研究、学术交流、咨询培训、会议会展、国际交流 | ||
| 法定代表人/负责人 | 王钧 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 北京市海淀区首体南路2号 | 邮编 : 100044 | |