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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 115—2021 |
| 中文标题 | 电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.080.01 半导体器分立件综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C397 电子器件制造 |
| 发布日期 | 2021年11月22日 |
| 实施日期 | 2022年02月01日 |
| 起草人 | 来萍、陈媛、何小琦、路国光、黄云、恩云飞、林罡、黄洪钟、米金华 |
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、电子科技大学 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析，是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充，可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因，并预先采取有效的预防措施；支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用。 |
| 是否包含专利信息 | 是 |
| 标准文本 | 查看 |
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| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 徐晓兰 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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