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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 116—2021 |
| 中文标题 | 电子元器件故障树分析方法与程序 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.080.01 半导体器分立件综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C397 电子器件制造 |
| 发布日期 | 2021年11月22日 |
| 实施日期 | 2022年02月01日 |
| 起草人 | 何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳 |
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题，可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻辑关系清晰的电子元器件故障信息库。本文件方法适用于产品尺寸小、内部结构性能难以直接测量的电子元器件产品。 |
| 是否包含专利信息 | 是 |
| 标准文本 | 查看 |
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| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 徐晓兰 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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