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标准详细信息 |
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标准状态 | 现行 |
标准编号 | T/CAB 0180—2022 |
中文标题 | GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法 |
英文标题 | Measurement method for characteristic parameters of GAGG crystal and crystal array |
国际标准分类号 | 17.240 |
中国标准分类号 | F 88 |
国民经济分类 | M732 工程和技术研究和试验发展 |
发布日期 | 2022年09月29日 |
实施日期 | 2022年09月29日 |
起草人 | 王宇、李敏、梁振兴、郭洪生、丁言国、徐旭升 |
起草单位 | 眉山博雅新材料股份有限公司、中物院核物理与化学研究所、上海联影医疗科技股份有限公司、广西国盛稀土新材料有限公司 |
范围 | 本文件适用于GAGG晶体及晶片阵列性能测量。 |
主要技术内容 | 本文件规定了掺铈钆铝镓石榴石(Cerium-doped Gadolinium Aluminum Gallium Garnet,Gd3Al2Ga3O12,英文缩写GAGG)晶体及晶片阵列外观及几何特性(外观、尺寸、翘曲度、总厚度偏差、表面粗糙度、垂直度、平行度等)的检测方法,以及辐射特性(光输出、相对能量转换效率、闪烁光衰减长度、发射光谱、闪烁余辉时间、晶体阵列的心角比等)的测量方法。
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是否包含专利信息 | 否 |
标准文本 | 不公开 |
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团体详细信息 |
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团体名称 | 中国产学研合作促进会 |
登记证号 | 511000005000209059 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
业务范围 | 理论研究 学术交流 国际合作 成果推广 展览展示 教育培训宣传普及 书刊编辑 咨询服务 |
法定代表人/负责人 | 王建华 |
依托单位名称 | |
通讯地址 | 北京市海淀区西三环北路89号中国外文大厦A座804 | 邮编 : 100089 |
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