T/CAB 0180—2022 GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CAB 0180—2022
中文标题  GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法
英文标题  Measurement method for characteristic parameters of GAGG crystal and crystal array
国际标准分类号  17.240
中国标准分类号  F 88
国民经济分类  M732 工程和技术研究和试验发展
发布日期  2022年09月29日
实施日期  2022年09月29日
起草人  王宇、李敏、梁振兴、郭洪生、丁言国、徐旭升
起草单位  眉山博雅新材料股份有限公司、中物院核物理与化学研究所、上海联影医疗科技股份有限公司、广西国盛稀土新材料有限公司
范围  本文件适用于GAGG晶体及晶片阵列性能测量。
主要技术内容  本文件规定了掺铈钆铝镓石榴石(Cerium-doped Gadolinium Aluminum Gallium Garnet,Gd3Al2Ga3O12,英文缩写GAGG)晶体及晶片阵列外观及几何特性(外观、尺寸、翘曲度、总厚度偏差、表面粗糙度、垂直度、平行度等)的检测方法,以及辐射特性(光输出、相对能量转换效率、闪烁光衰减长度、发射光谱、闪烁余辉时间、晶体阵列的心角比等)的测量方法。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开

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团体详细信息
团体名称中国产学研合作促进会
登记证号511000005000209059发证机关中华人民共和国民政部
业务范围理论研究 学术交流 国际合作 成果推广 展览展示 教育培训宣传普及 书刊编辑 咨询服务
法定代表人/负责人王建华
依托单位名称
通讯地址北京市海淀区西三环北路89号中国外文大厦A座804邮编 : 100089

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