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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CESA 1186—2022 |
| 中文标题 | 电子封装用二氧化硅微粉表面硅羟基含量测试方法 酸碱滴定法 |
| 英文标题 | Test method for silanol content on surface of silica powder for electronic packaging—Acid-base titration |
| 国际标准分类号 | 31-030 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C3990 其他电子设备制造 |
| 发布日期 | 2022年02月23日 |
| 实施日期 | 2022年05月23日 |
| 起草人 | 阮建军、王宁、曹家凯、朱朋莉、柴颂刚、杜明勇、赵涛、曾耀德、刘潜发、李小红、牛利永、张建平、马涛、蔡晓东、吴怡然、孙小耀、周紫文 |
| 起草单位 | 江苏联瑞新材料股份有限公司、中国科学院深圳先进技术研究院、广东生益科技股份有限公司、河南大学、衡所华威电子有限公司、中国电子技术标准化研究院 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件描述了电子封装用二氧化硅微粉（纯度大于99.8%）（以下简称“二氧化硅微粉”）表面硅羟基的酸碱滴定测试方法，包括测试原理、环境条件、试剂、测试步骤、结果计算和实验报告。
本文件适用于环氧模塑料、底部填充胶、电子电路基板、积层绝缘胶膜等封装材料中二氧化硅微粉表面硅羟基含量的测定。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
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| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国电子工业标准化技术协会 |
| 登记证号 | 5110000050001381XW | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 行业指导 信息交流 业务培训 咨询服务 国际合作 |
| 法定代表人/负责人 | 刘志宏 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市海淀区万寿路27号 | 邮编 : 100036 |
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