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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 133—2022 |
| 中文标题 | 磁随机存储器件数据保持时间测试方法 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.200 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
| 发布日期 | 2022年08月10日 |
| 实施日期 | 2022年08月10日 |
| 起草人 | 赵巍胜、彭守仲、芦家琪、李伟祥、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌。 |
| 起草单位 | 北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）器件数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。
本标准适用于磁随机存储器件的数据保持时间测试和磁随机存储器件的数据保持时间验证。
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| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 徐晓兰 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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