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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CNIA 0143—2022 |
| 中文标题 | 半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 71.040.20 实验室器皿和有关仪器 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C261 基础化学原料制造 |
| 发布日期 | 2022年02月28日 |
| 实施日期 | 2022年08月01日 |
| 起草人 | 鲁文锋、胡军波、刘晓霞、刘翠、王桃霞、邱艳梅 |
| 起草单位 | 江苏赛夫特半导体材料检测技术有限公司、北京诚驿恒仪科技有限公司、苏州汉谱埃文材料科技有限公司、新疆大全新能源股份有限公司、集萃新材料研发有限公司、新特能源股份有限公司 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了半导体材料痕量杂质（ng/kg～μg/kg级别）分析用超纯树脂器皿（以下简称器皿）的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国有色金属工业协会 |
| 登记证号 | 50001331-8 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 行业自律、信息交流、业务培训、科技开发、国际合作与交流、咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 陈全训 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市海淀区复兴路乙12号 | 邮编 : 100814 |
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