T/ZGTXXH 085—2023 计算产品先进性评估规范：第一部分：人工智能芯片先进性评估指标与评估方法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/ZGTXXH 085—2023 |
| 中文标题 | 计算产品先进性评估规范：第一部分：人工智能芯片先进性评估指标与评估方法 |
| 英文标题 | The advanced properties of computing products: The first part: Artificial Intelligence Chips assessment index and assessing method |
| 国际标准分类号 | 35.200 |
| 中国标准分类号 | L56 |
| 国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
| 发布日期 | 2023年12月11日 |
| 实施日期 | 2023年12月11日 |
| 起草人 | 焦奕硕、张乾、王骏成、李峰、傅正涛、李璇、涂宏斌、张鲁峰、廖城、谢贵超、周庆飞、郭小军、蒋超、梅敬青、王思善、黄伟、周兰、张雷、李昊、谷潇聪、尹立群、马晓亮、余雪松、胡铭珊、付庆平、虞新阳、郭建辛、刘立平、杨光、李策、欧阳剑。 |
| 起草单位 | 中国信息通信研究院、中国长城科技集团股份有限公司、浪潮(山东)计算机科技有限公司、联想集团、飞腾信息技术有限公司、上海燧原科技有限公司、中科寒武纪科技股份有限公司、上海天数智芯半导体有限公司、沐曦集成电路（上海）有限公司、深圳信息通信研究院、摩尔线程智能科技（北京）有限责任公司、昆仑芯（北京）科技有限公司。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 缩略语 5 评估测试方案概述 5.1 评估测试框架 5.1.1网络框架 5.1.2 应用场景 5.2 评估测试对象 5.3 评估测试原则 5.4 评估测试环境 6 评估测试指标和方法 6.1 评估测试方法概述 6.1.1材料检查 6.1.2技术评估测试 6.2 测试模式 6.2.1 封闭式训练 6.2.2 封闭式推理 6.2.3 开放式训练 6.2.4 开放式推理 6.3 测试场景 6.3.1 图像分类 6.3.2 目标检测 6.3.3 自然语言处理 6.3.4 大模型计算 6.4 芯片先进性指标和评估方法 6.4.1. 芯片基础算力性能 6.4.2. 芯片数据计算效率 6.4.3. 芯片加速协同能力 6.4.4. 芯片能效 6.4.5. 芯片安全计算效率 6.4.6 芯片灵活适配性 6.5 评分方法 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国通信学会 | ||
| 登记证号 | 51100000500008746F | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 普及教育 书刊编辑 咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 张延川 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 北京市海淀区万寿路27号 | 邮编 : 100846 | |