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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CAMS 186—2024 |
| 中文标题 | 二维材料光电探测器性能参数测试方法 |
| 英文标题 | Test method for performance of 2D material photodetectors |
| 国际标准分类号 | 31.200 |
| 中国标准分类号 | L55 |
| 国民经济分类 | I659 其他信息技术服务业 |
| 发布日期 | 2024年03月07日 |
| 实施日期 | 2024年04月01日 |
| 起草人 | 胡伟达、王芳、卢铁林、张永刚、尹俊、代福兴、姜睿琪、王进、樊子天、岳磊、谢润章、王振、汪朝敏、于虹、赵俊、杨玉平、李小娟、米旺、陈信霖、孔令琴、赵跃进、柳晓菁 |
| 起草单位 | 中国科学院上海技术物理研究所、机械工业仪器仪表综合技术经济研究所、云南电力技术有限责任公司、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国能源建设股份有限公司、云南电网有限责任公司电力科学研究院、北方夜视科技研究院集团有限公司、中央民族大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京美尔斯通科技发展股份有限公司、昆明物理研究所、北京理工大学、北京印刷学院。 |
| 范围 | 本文件适用于二维材料光电探测器（以下简称“光电探测器”）的性能测试，也可为其它探测器的性能测试提供参考。 |
| 主要技术内容 | 本文件规定了二维材料光电探测器性能参数测试总则及测试方法。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国机械工业标准化技术协会 |
| 登记证号 | 51100000500011881Y | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 理论研究 技术培训 行业管理 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 谭湘宁 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京首体南路2号 | 邮编 : 100044 |
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