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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 144—2022 |
| 中文标题 | 半导体器件可靠性强化试验方法 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.020 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I659 其他信息技术服务业 |
| 发布日期 | 2022年12月31日 |
| 实施日期 | 2023年01月31日 |
| 起草人 | 杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、 赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波 |
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件确定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了元器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件、混合电路的可靠性强化试验指导。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 陈英 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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