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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | |
| 标准编号 | T/CIE 148—2022 |
| 中文标题 | 阻变存储单元电学测试规范 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.200 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
| 发布日期 | 2022年12月31日 |
| 实施日期 | 2023年01月31日 |
| 起草人 | 雷登云、韦覃如、张峰、高汭、许晓欣、来萍、黄云、黄鹏、杨东、王力纬、 侯波、曲晨冰、孙宸、刘远 |
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、广东工业大学、中国科学院微电子研究所、 北京大学、黄河科技学院 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了阻变存储单元擦写、耐久性和数据保持等测试方法，其结果用于表征阻变存储器的电学特性。
本文件适用于阻变存储器器件的测试，用于测试器件单元特性，不适用于包含外部驱动电路的存储单元。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 陈英 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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