T/CIE 150—2022 现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范-团体标准
目录
标准详细信息 | |
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标准状态 | 现行 |
标准编号 | T/CIE 150—2022 |
中文标题 | 现场可编程门阵列(FPGA)芯片时序可靠性测试规范 |
英文标题 | |
国际标准分类号 | 31.020 |
中国标准分类号 | |
国民经济分类 | I659 其他信息技术服务业 |
发布日期 | 2022年12月31日 |
实施日期 | 2023年01月31日 |
起草人 | 雷登云、余永涛、杨东、曲晨冰、孙宸、夏益民、王力纬、侯波、来萍、张 洋洋、郭海松、刘远、廖步彪、冯成燕、周奇、袁智皓、唐伟东、王文锋、俞剑 |
起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所、黄河科技学院、广东工业大学、深圳市紫光 同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路 信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团第九研究院第772研究所、上 海复旦微电子集团股份有限公司 |
范围 | |
主要技术内容 | 本文件规定了FPGA芯片时序可靠性测试,包含了硬核IP、接口IP、互联等模块的时序可靠性评估方法,用以保障FPGA满足预定用途所需的时序稳定性要求。 本文件适用于FPGA的提供者、使用者和第三方评价FPGA芯片的时序可靠性。此处第三方是指在FPGA芯片交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。 |
是否包含专利信息 | 否 |
标准文本 | 不公开 |
团体详细信息 | |||
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团体名称 | 中国电子学会 | ||
登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 | ||
法定代表人/负责人 | 陈英 | ||
依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 | ||
通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |