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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 152—2022 |
| 中文标题 | 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 19.020 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I659 其他信息技术服务业 |
| 发布日期 | 2022年12月31日 |
| 实施日期 | 2023年01月31日 |
| 起草人 | 周帅，马凌志，邱宝军，罗宏伟，王小强、王斌，罗捷，罗军，林晓玲，武 慧薇，崔华楠，马凯学，吴裕功，蔡念，常胜，温长清 |
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所，中国空间技术研究院，天津大学，武汉大学， 广东工业大学，深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序，包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。
本文件适用于军用及民用的微电子器件。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 陈英 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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