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| 标准详细信息 |
|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIE 155—2023 |
| 中文标题 | 非易失性相变存储器电性能测试方法 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 31.200 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | I6550 信息处理和存储支持服务 |
| 发布日期 | 2023年03月20日 |
| 实施日期 | 2023年03月20日 |
| 起草人 | 缪向水、何强、童浩、程晓敏、徐明、刘峻、李硕、任玲玲、李锟 |
| 起草单位 | 华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 |
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 陈英 |
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 |
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