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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/ZZB Q063—2022 |
| 中文标题 | 半导体器件间歇工作寿命试验设备 |
| 英文标题 | Intermittent working life test equipment for semiconductor devices |
| 国际标准分类号 | 17.040.30 测量仪器仪表 |
| 中国标准分类号 | L87 |
| 国民经济分类 | C401 通用仪器仪表制造 |
| 发布日期 | 2022年10月14日 |
| 实施日期 | 2022年10月20日 |
| 起草人 | 胡久恒、代凯旋、周恺超、史少礼、许静、连加俤、和巍巍、罗皓泽、钱清友、邹光炜、潘子升、夏姚忠、丁兆达、王永乐、李俊。 |
| 起草单位 | 杭州高坤电子科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、浙江大学电气工程学院、士兰微电子股份有限公司、捷捷半导体有限公司、上海季丰电子股份有限公司、北京中科新微特科技开发股份有限公司、杭州电子科技大学、中国计量大学。 |
| 范围 | |
| 主要技术内容 | 本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。
本文件适用于验证Si\GaN\SiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
|---|
| 团体名称 | 浙江省质量协会 |
| 登记证号 | 513300005018702741 | 发证机关 | 浙江省民政厅 |
| 业务范围 | 政策咨询、信息管理、质量培训、质量会议、质量咨询、用户服务与评价、学术交流、编辑专业书刊、技术服务. |
| 法定代表人/负责人 | 吕继响 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 浙江省杭州市玉古路173号中田大厦301室 | 邮编 : 310012 |
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