T_CNS 81—2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CNS 81—2022
中文标题  电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
英文标题  Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device
国际标准分类号  27.120.01 核能综合
中国标准分类号  F 70
国民经济分类  C397 电子器件制造
发布日期  2022年12月16日
实施日期  2023年04月01日
起草人  文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟
起草单位  中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
范围  本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
主要技术内容  本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。
是否包含专利信息  
标准文本  查看
团体详细信息
团体名称中国核学会
登记证号3138发证机关中华人民共和国民政部
业务范围学术交流、书刊编辑、咨询服务、展览、科普
法定代表人/负责人雷增光
依托单位名称
通讯地址北京市三里河南4巷1号邮编 : 100045

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