T_CNS 81—2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法-团体标准
目录
标准详细信息 | |
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标准状态 | 现行 |
标准编号 | T/CNS 81—2022 |
中文标题 | 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法 |
英文标题 | Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device |
国际标准分类号 | 27.120.01 核能综合 |
中国标准分类号 | F 70 |
国民经济分类 | C397 电子器件制造 |
发布日期 | 2022年12月16日 |
实施日期 | 2023年04月01日 |
起草人 | 文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟 |
起草单位 | 中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部 |
范围 | 本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。 |
主要技术内容 | 本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。 |
是否包含专利信息 | 否 |
标准文本 | 查看 |
团体详细信息 | |||
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团体名称 | 中国核学会 | ||
登记证号 | 3138 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
业务范围 | 学术交流、书刊编辑、咨询服务、展览、科普 | ||
法定代表人/负责人 | 雷增光 | ||
依托单位名称 | 无 | ||
通讯地址 | 北京市三里河南4巷1号 | 邮编 : 100045 |