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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/BDT 003—2024 |
| 中文标题 | 高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备 |
| 英文标题 | High-speed analog-to-digital converter（ADC）test equipment |
| 国际标准分类号 | 25.040.01 工业自动化系统综合 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C356 电子和电工机械专用设备制造 |
| 发布日期 | 2024年10月09日 |
| 实施日期 | 2024年10月10日 |
| 起草人 | 胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙 |
| 起草单位 | 南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司 |
| 范围 | 本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。 |
| 主要技术内容 | 同时支持LVDS、204B等数字接口，支持SPI、I2C等协议，支持采样率不高于12.5Gbps的全自动ADC芯片测试机。其SNR、SINAD指标可满足市面上绝大多数芯片的测试需求。通过自研INL、DNL算法，使得在测试上具有更高的效率以及更低的门槛。对于高精度的ADC芯片，动态性能指标的测试稳定性也有明显优势。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 查看 |
| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国半导体行业协会 |
| 登记证号 | 511000005000004617 | 发证机关 | 民政部 |
| 业务范围 | 行业自律，业务培训，信息交流，国际合作，咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 张立 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市海淀区万寿路27号 | 邮编 : 100036 |
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