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| 标准详细信息 |
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| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CIET 820—2024 |
| 中文标题 | 高精度微纳位移传感器技术要求 |
| 英文标题 | |
| 国际标准分类号 | 17.040.30 测量仪器仪表 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | C402 专用仪器仪表制造 |
| 发布日期 | 2024年11月27日 |
| 实施日期 | 2024年11月27日 |
| 起草人 | 彭凯、赵凯瑞、陈峰、樊星辰、刘忠建、杨明远、李韶璇、李新华、贾志博、李元、于治成、闫更辉、刘岩、吴永利、汪贤峰、关杨杰、徐敬铭、包瑾、刘旭彤、吕常松。 |
| 起草单位 | 通用技术集团国测时栅科技有限公司、中航星（西安）智能系统有限公司、哈尔滨芯明天科技有限公司、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所、大连理工大学盘锦产业技术研究院、南京纳璇宇计量科技有限公司、通标中研标准化技术研究院（北京）有限公司、途邦认证有限公司。 |
| 范围 | 本文件规定了高精度微纳位移传感器的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。
本文件适用于基于纳米时栅和电容式测量原理的高精度微纳位移传感器。 |
| 主要技术内容 | 本文件规定了高精度微纳位移传感器的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。
本文件适用于基于纳米时栅和电容式测量原理的高精度微纳位移传感器。
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| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 |
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| 团体名称 | 中国国际经济技术合作促进会 |
| 登记证号 | 51100000500012876L | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 理论研究 技术交流 业务培训 书刊编辑 国际合作 咨询服务 |
| 法定代表人/负责人 | 杨连子 |
| 依托单位名称 | |
| 通讯地址 | 北京市通州区经海五路1号院45号楼1层5-101 | 邮编 : 101111 |
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