T_CSP 13—2024 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法-团体标准
目录
| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CSP 13—2024 |
| 中文标题 | 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 |
| 英文标题 | Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy |
| 国际标准分类号 | 17.020 |
| 中国标准分类号 | |
| 国民经济分类 | M731 自然科学研究和试验发展 |
| 发布日期 | 2024年11月18日 |
| 实施日期 | 2024年11月25日 |
| 起草人 | 常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高 原、郎爽、毛璐、周素红。 |
| 起草单位 | 国家纳米科学中心、国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股 份公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体 技术协会。 |
| 范围 | 本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。 本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。 |
| 主要技术内容 | 微纳米异质结构的形貌、结构、成分以及界面等往往与材料的宏观性能密切相关，因此对微纳米异质结构样品多方面的准确分析显得尤为重要。透射电子显微镜是采用透过样品的电子束成像来显示样品内部形态与结构的表征设备，其配备扫描透射附件、能谱附件后更能对样品结构、成分进行较精确的分析，尤其适用于微纳米异质结构样品，可实现微纳米异质结构的形貌、结构、成分和界面的一体化表征。近年来随着透射电子显微镜分辨率的不断提高，可配备探测器的多样化，以及样品制备技术手段的提升，使得采用透射电子显微镜对微纳米异质结构样品的分析具有更广泛的适用性和有效性。 |
| 是否包含专利信息 | 否 |
| 标准文本 | 不公开 |
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国颗粒学会 | ||
| 登记证号 | 50000879-7 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 理论研究，学术交流，业务培训，咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 陈运法 | ||
| 依托单位名称 | 中科院过程工程研究所 | ||
| 通讯地址 | 北京中关村北二条1号 | 邮编 : 100190 | |