T_WXICS 002—2024 半导体封装用UV减黏保护膜性能关键指标及测试方法-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/WXICS 002—2024
中文标题  半导体封装用UV减黏保护膜性能关键指标及测试方法
英文标题  
国际标准分类号  71.080.99 其他有机化学品
中国标准分类号  
国民经济分类  C266 专用化学产品制造
发布日期  2024年12月06日
实施日期  2025年01月06日
起草人  郑亮、徐峥、王远军、肖汉武、朱小驰、周德金、何花、王燕婷、于平平、徐振宇、李蕾蕾、李云海、周亚丽、周理明、张晓林、宋天明、郝兵、毛添璐、范锋斌、沈国阳、叶敏、雷剑。
起草单位  江苏特丽亮新材料科技有限公司、无锡市集成电路学会、无锡中微高科电子有限公司、无锡华润安盛科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、江南大学、无锡科技职业技术学院、杭州海康微影传感科技有限公司、扬州扬杰电子科技有限公司、江苏卓胜微电子股份有限公司、南通皋鑫科技开发有限公司、世星科技股份有限公司。
范围  
主要技术内容  本文件给出了半导体封装用UV减黏保护膜的性能关键指标及测试方法,包括:外观要求和性能要求。具体包括:外观检验、厚度测定、宽度测定、UV照射前180°剥离力测试、UV减黏条件、UV照射后180°剥离力测试、滚球初粘测试、拉伸强度测试、断裂伸长率测试、光学透过率测试、抗静电性能测试并给出了缺陷实例。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称无锡市集成电路学会
登记证号51320200MJ59507333发证机关无锡市民政局
业务范围(一) 宣传科普。(二) 理论研究。(三) 学术交流。 (四) 咨询服务。 (五) 会员内部培训。(六) 成果转化。(七) 编撰出版学会内部资料。 (八) 承办相关部门委托的其他事项。
法定代表人/负责人周德金
依托单位名称
通讯地址无锡市滨湖区建筑西路777号A3-408室邮编 : 214035

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