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标准详细信息 |
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标准状态 | 现行 |
标准编号 | T/EDASQUARE 014—2024 |
中文标题 | 数字集成电路寄生参数提取工具测试标准 |
英文标题 | Testing Methodology &Standard of Parasitic Extraction Software for Digital Design |
国际标准分类号 | 31.200 |
中国标准分类号 | |
国民经济分类 | I6520 集成电路设计 |
发布日期 | 2024年09月21日 |
实施日期 | 2024年09月22日 |
起草人 | 姚海龙,贺旭,喻文健,徐小宇,王琦,张旻,吴涛,张静,杨晓剑,刘渤海, 顾征宙,韩盛,牟云雁,徐明飞,冯晓龙,谢卓,乔薛鹏,赵建飞,郭令仪,邹鹏,崔晓亮,陈献,陈学政,李俊杰。 |
起草单位 | 北京科技大学,湖南大学,清华大学、深圳市海思半导体有限公司,杭州行芯科技有限公司,深圳鸿芯微纳技术有限公司,北京华大九天科技股份有限公司,上海立芯软件科技有限公司,深圳亿方联创科技有限公司,上海合昕工业软件有限公司,青岛展诚科技有限公司,杭州芯晓电子科技有限公司,深圳国微芯科技有限公司。 |
范围 | |
主要技术内容 | 本文件规定了超大规模数字电路寄生参数提取软件测试的测试过程、测试需求模型和测试类型。 本文件适用于超大规模数字电路寄生参数提取软件测试的分析、设计和执行。 |
是否包含专利信息 | 否 |
标准文本 | 不公开 |
团体详细信息 |
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团体名称 | 上海电子设计自动化发展促进会 |
登记证号 | 51310000MJ4905543H | 发证机关 | 上海市民政局 |
业务范围 | 开展电子设计自动化及相关领域的调查研究,技术创新,编辑出版,标准制定,测试评价,培训与交流,展览展示,承接相关委托事项。(涉及行政许可的,凭许可证开展业务) |
法定代表人/负责人 | 郑云升 |
依托单位名称 | |
通讯地址 | 上海市浦东新区龙东大道3000号1幢裙房217-08室 | 邮编 : 201203 |
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