T_CIE 256—2024 大规模数字IC设计原型验证系统通用规范-团体标准

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标准详细信息
标准状态  现行
标准编号  T/CIE 256—2024
中文标题  大规模数字IC设计原型验证系统通用规范
英文标题  
国际标准分类号  31.200
中国标准分类号  
国民经济分类  M749 工业与设计及其他专业技术服务业
发布日期  2024年08月09日
实施日期  2024年09月01日
起草人  刘丹、马婧、暴宇、李俊华、李银斯、郝智翔、于鑫、苏琪、杨红艳、李翔宇、李幸和、邵健、魏江杰、袁爱东、张琦滨、汪争、毕小建、韩文燕、张艳飞、谭光明、元国军、武楠、张龙、张立星、薛梅、盛敬刚、黄雯华、李熠。
起草单位  江苏汤谷智能科技有限公司、清华大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡先进技术研究院、无锡中微亿芯有限公司、中科院计算所、北京理工大学、中科院软件所、浙江大学、深圳市国微电子有限公司、紫光同芯微电子有限公司、湖南进芯电子科技有限公司、北京神州泰岳软件股份有限公司
范围  
主要技术内容  本文件给出了大规模数字IC设计原型验证系统的验证流程、配套工具、选型标准、互联标准、时钟标准和软件标准的说明,并规定了原型验证系统设计要遵循的规范标准和技术要求。
本文件适用于大规模数字芯片IC设计验证领域中,以FPGA芯片为主的原型验证系统的设计实现。其可应用于一个完整原型验证系统中的硬件设计模块、软件设计模块、互联拓扑模块及验证调试模块的开发和规范。
是否包含专利信息  
标准文本  不公开
团体详细信息
团体名称中国电子学会
登记证号社证字第4079号发证机关中华人民共和国民政部
业务范围学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务
法定代表人/负责人陈英
依托单位名称中华人民共和国工业和信息化部
通讯地址北京市玉渊潭南路普惠南里13号邮编 : 100036

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